项目名称：芯片自动表面缺陷检测设备
项目编号：TC250J064
变更内容：
（1）本项目质保期要求为：自验收合格之日起 2 年。
（2）第五章 供货要求 技术部分的“2.1.1硬件结构：1）光学成像系统”要求为：
1）光学成像系统：光学镜头、高精度的传感器。
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